கேவிட்டி டூப்ளெக்சர் SMA-F கனெக்டர் 2500-2690MHz குறைந்த செருகல் இழப்பு CMH000127-A-B7
விளக்கம்
கேவிட்டி டூப்ளெக்ஸர் SMA-F கனெக்டர் இயங்கும் 2500-2690MHz குறைந்த செருகல் இழப்பு
கேவிட்டி டூப்ளெக்ஸர் CMH000127-A-B7 என்பது Jingxin ஆல் வடிவமைக்கப்பட்ட மற்றும் விற்பனைக்காக தயாரிக்கப்பட்ட RF செயலற்ற கூறுகளின் ஒரு வகையாகும், இது 295mm x 200mm x 38 mm மட்டுமே அளவிடப்பட்ட 1.0dB க்கும் குறைவான செருகும் இழப்புடன் சிறப்பாகக் கொண்டுள்ளது.
இந்த உயர்-செயல்திறன் டூப்ளெக்சரின் அதிர்வெண் 2500-2690MHz வரை 4.3/10 மற்றும் SMA-F இணைப்பிகளுடன் உள்ளடக்கியது, ஆனால் தேவைக்கேற்ப மற்றவற்றுக்கு மாற்றலாம்.RAL9010 உடன், குறைந்த செருகும் இழப்பைக் கொண்ட அத்தகைய குழி டூப்ளெக்சர் நீண்ட நேரம் உட்புற பயன்பாடுகளில் தாங்கும்.
வாக்குறுதியளித்தபடி, ஜிங்சின் அனைத்து RF செயலற்ற கூறுகளுக்கும் 3 வருட உத்தரவாதம் உள்ளது.
அளவுரு
| Pஅராமீட்டர் | TX | RX | Spec |
| வருவாய் இழப்பு(சாதாரண வெப்பநிலை) | 2620-2690MHz | 2500-2570MHz | ≥20 dB |
| வருவாய் இழப்பு(முழு வெப்பநிலை) | ≥20 dB | ||
| அதிகபட்ச செருகும் இழப்பு(சாதாரண வெப்பநிலை) | ≤0.7 dB | ||
| அதிகபட்ச செருகும் இழப்பு(முழு வெப்பநிலை) | ≤1.0 dB | ||
| இன்-பேண்ட் சிற்றலை (முழு வெப்பநிலை) | ≤0.8 dB | ||
| நிராகரிப்புகள் (முழு வெப்பநிலை) | 100-2500MHz | 100-2450MHz | ≥50 dB |
| 2750-5000MHz | 2690-5000MHz | ≥50 dB | |
| தனிமைப்படுத்தல் TX-RX | 2620-2690MHz&2500-2570MHz | ≥80 dB | |
| 2 டூப்ளெக்சர்களுக்கு இடையில் தனிமைப்படுத்தல் | 2620-2690MHz&2500-2570MHz | ≥60 dB | |
| அனைத்து துறைமுகங்களுக்கும் மின்மறுப்பு | 50 ஓம் | ||
| அட்மிஸிவ் பவர் | 150W CW | ||
| PIM | ≤153 டிபிசி | ||
| வெப்பநிலை வரம்பு | -40°C முதல் 85°C வரை | ||
விருப்ப RF செயலற்ற கூறுகள்
RF செயலற்ற கூறுகளின் உற்பத்தியாளராக, ஜிங்சின் வாடிக்கையாளர்களின் பயன்பாடுகளுக்கு ஏற்ப பல்வேறுவற்றை வடிவமைக்க முடியும்.
RF செயலற்ற கூறுகளின் சிக்கலைத் தீர்க்க 3 படிகள் மட்டுமே
1.உங்களால் அளவுருவை வரையறுத்தல்.
2.ஜிங்சின் மூலம் உறுதிப்படுத்தல் திட்டத்தை வழங்குதல்.
3.ஜிங்சின் மூலம் சோதனைக்கான முன்மாதிரியை உருவாக்குதல்.
RF செயலற்ற கூறுகளின் சிக்கலைத் தீர்க்க 3 படிகள் மட்டுமே
1.உங்களால் அளவுருவை வரையறுத்தல்.
2.ஜிங்சின் மூலம் உறுதிப்படுத்தல் திட்டத்தை வழங்குதல்.
3.ஜிங்சின் மூலம் சோதனைக்கான முன்மாதிரியை உருவாக்குதல்.
